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Espectrómetro de emisión óptica de descarga de chispa basado en CMOS
Análisis de espectro completo de bases múltiples para una máxima flexibilidad elemental
Límites ultrabajos de detección
Rango de longitud de onda: 130nm-800nm, máximo 30+ elementos
Estabilidad y repetibilidad a largo plazo
Excelente espectroscopia de emisión óptica vertical
Vacuómetro para monitorear el estado del vacío en tiempo real
Análisis ultrabajo en carbono y bajo en nitrógeno
Aplicaciones de análisis de muestras pequeñas
Espectrómetro de emisión óptica de descarga de chispa basado en CMOS
Análisis de espectro completo de bases múltiples para una máxima flexibilidad elemental
Límites ultrabajos de detección
Rango de longitud de onda: 130nm-800nm, máximo 30+ elementos
Estabilidad y repetibilidad a largo plazo
Excelente espectroscopia de emisión óptica vertical
Vacuómetro para monitorear el estado del vacío en tiempo real
Análisis ultrabajo en carbono y bajo en nitrógeno
Aplicaciones de análisis de muestras pequeñas
analizador de metales basado en CCD, descarga de chispas,. análisis preciso de todos los metales comunes para el control de calidad de productos entrantes y salientes. rango de longitud de onda efectivo: 130nm-800nm. escalabilidad superior para satisfacer las necesidades de expansión del negocio resistente y fiable, fácil de operar disponible como modelo de sobremesa o de suelo
Espectrómetros de emisión óptica TY-9000 (arc/spark-oes) analizador de metales basado en CCD, descarga de chispas,. análisis preciso de todos los metales comunes para el control de calidad de productos entrantes y salientes. rango de longitud de onda efectivo: 130nm-800nm. escalabilidad superior para satisfacer las necesidades de expansión del negocio resistente y fiable, fácil de operar disponible como modelo de sobremesa o de suelo
Bajo costo total de propiedad
Óptica sin vacío
con
estabilización rápida
Fiabilidad y rendimiento analítico inigualables
Excelente estabilidad a largo plazo
Fácil de usar con control total de la PC
Diseño compacto, tamaño pequeño.
Máximo 20 elementos
Sistema de lectura CMOS de alta resolución
Bajo costo total de propiedad
Óptica de vacío que permite una estabilización rápida
Excelente estabilidad a largo plazo
Diseño inteligente, Diseño modular
Aplicaciones ferrosas y no ferrosas
Fácil de usar con control total de la PC
Interfaz de usuario amigable
El analizador de metales de alto rendimiento de cuarta generación
Basado en CMOS, descarga de chispas, detección de metales
Límites ultrabajos de detección
Alta integración, confiabilidad, estabilidad
Bajo costo de operación y fácil mantenimiento
Cámara óptica de vacío y bajo consumo de argón
Tecnología de chorro de argón para optimizar el análisis de muestras pequeñas
Modificación de parámetros estandarizados
Máximo 30+ elementos
Análisis alto en nitrógeno (N) 0.03-0.9%
Sistema de lectura CMOS de alta resolución
Bajo costo total de propiedad
Óptica de vacío que permite una estabilización rápida
Excelente estabilidad a largo plazo
Diseño inteligente, Diseño modular
Aplicaciones ferrosas y no ferrosas
Fácil de usar con control total de la PC
Interfaz de usuario amigable
El analizador de metales de alto rendimiento de cuarta generación
Basado en CMOS, descarga de chispas, detección de metales
Límites ultrabajos de detección
Alta integración, confiabilidad, estabilidad
Bajo costo de operación y fácil mantenimiento
Cámara óptica de vacío y bajo consumo de argón
Tecnología de chorro de argón para optimizar el análisis de muestras pequeñas
Modificación de parámetros estandarizados
Máximo 30+ elementos
Análisis alto en nitrógeno (N) 0.03-0.9%
Sistema de lectura CMOS de alta resolución
Bajo costo total de propiedad
Óptica de vacío que permite una estabilización rápida
Excelente estabilidad a largo plazo
Diseño inteligente, Diseño modular
Aplicaciones ferrosas y no ferrosas
Fácil de usar con control total de la PC
Interfaz de usuario amigable
El analizador de metales de alto rendimiento de cuarta generación
Basado en CMOS, descarga de chispas, detección de metales
Límites ultrabajos de detección
Alta integración, confiabilidad, estabilidad
Bajo costo de operación y fácil mantenimiento
Cámara óptica de vacío y bajo consumo de argón
Tecnología de chorro de argón para optimizar el análisis de muestras pequeñas
Modificación de parámetros estandarizados
Máximo 30+ elementos
Análisis alto en nitrógeno (N) 0.03-0.9%
Espectrómetro de emisión óptica de descarga de chispa basado en CMOS
Análisis de espectro completo de bases múltiples para una máxima flexibilidad elemental
Límites ultrabajos de detección
Rango de longitud de onda: 130nm-800nm, máximo 30+ elementos
Estabilidad y repetibilidad a largo plazo
Excelente espectroscopia de emisión óptica vertical
Vacuómetro para monitorear el estado del vacío en tiempo real
Análisis ultrabajo en carbono y bajo en nitrógeno
Aplicaciones de análisis de muestras pequeñas