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Detección de metales mediante descarga de chispa basada en CMOS
Límites de detección ultrabajos
Alta integración, fiabilidad y estabilidad.
Tecnología de chorro de argón para optimizar el análisis de muestras pequeñas.
Modificación de parámetros estandarizados
Máximo 30+ elementos
Análisis de nitrógeno (N) alto 0,03-0,9%
Rendimiento estable para funcionamiento industrial 24/7.
Ideal para el control de calidad frontal del horno y la verificación de materiales.
Sistema de lectura CMOS de alta resolución
Bajo costo total de propiedad
Óptica de vacío que permite una estabilización rápida
Excelente estabilidad a largo plazo
Diseño inteligente, diseño modular
Aplicaciones ferrosas y no ferrosas
Fácil de usar con control total desde PC
Interfaz de usuario amigable
Espectrómetro de emisión óptica de descarga de chispa basado en CMOS
Análisis de espectro completo y multibase para máxima flexibilidad elemental
Límites de detección ultrabajos
Rango de longitud de onda: 130 nm-800 nm, máximo 30 elementos
Estabilidad y repetibilidad a largo plazo
Excelente espectroscopia de emisión óptica vertical
Vacuómetro para monitorizar el estado de vacío en tiempo real
Análisis de carbono ultrabajo y bajo en nitrógeno
Aplicaciones de análisis de muestras pequeñas
Análisis in situ flexible, fiable y seguro
Inspección in situ en cualquier momento y en cualquier lugar
Identificación positiva de materiales (PMI)
Ligero, pesa aproximadamente 20 kg.
Alta precisión y estabilidad
Adecuado para tareas de análisis en diferentes condiciones.
Compacto, robusto y con óptica de alto rendimiento.
Diseño móvil inteligente y multimodal
Sistema de lectura CMOS de alta resolución
Bajo costo total de propiedad
Óptica de vacío que permite una estabilización rápida
Excelente estabilidad a largo plazo
Diseño inteligente, diseño modular
Aplicaciones ferrosas y no ferrosas
Fácil de usar con control total desde PC
Interfaz de usuario amigable
Espectrómetro de emisión óptica de descarga de chispa basado en CMOS
Análisis de espectro completo y multibase para máxima flexibilidad elemental
Límites de detección ultrabajos
Rango de longitud de onda: 130 nm-800 nm, máximo 30 elementos
Estabilidad y repetibilidad a largo plazo
Excelente espectroscopia de emisión óptica vertical
Vacuómetro para monitorizar el estado de vacío en tiempo real
Análisis de carbono ultrabajo y bajo en nitrógeno
Aplicaciones de análisis de muestras pequeñas
Espectrómetro de emisión óptica de descarga de chispa basado en CMOS
Análisis de espectro completo y multibase para máxima flexibilidad elemental
Límites de detección ultrabajos
Rango de longitud de onda: 130 nm-800 nm, máximo 30 elementos
Estabilidad y repetibilidad a largo plazo
Excelente espectroscopia de emisión óptica vertical
Vacuómetro para monitorizar el estado de vacío en tiempo real
Análisis de carbono ultrabajo y bajo en nitrógeno
Aplicaciones de análisis de muestras pequeñas
Análisis in situ flexible, fiable y seguro
Inspección in situ en cualquier momento y en cualquier lugar
Identificación positiva de materiales (PMI)
Ligero, pesa aproximadamente 20 kg.
Alta precisión y estabilidad
Adecuado para tareas de análisis en diferentes condiciones.
Compacto, robusto y con óptica de alto rendimiento.
Diseño móvil inteligente y multimodal
Análisis in situ flexible, fiable y seguro
Inspección in situ en cualquier momento y en cualquier lugar
Identificación positiva de materiales (PMI)
Ligero, pesa aproximadamente 20 kg.
Alta precisión y estabilidad
Adecuado para tareas de análisis en diferentes condiciones.
Compacto, robusto y con óptica de alto rendimiento.
Diseño móvil inteligente y multimodal
Espectrómetros de emisión óptica TY-9000 (arco/chispa-OES)
Analizador de metales con descarga de chispa basado en CCD.
Análisis preciso de todos los metales comunes para el control de calidad de productos entrantes y salientes.
Rango de longitud de onda efectiva: 130 nm-800 nm.
Escalabilidad superior para satisfacer las necesidades de expansión empresarial
Robusto y fiable,
Fácil de usar
Disponible como modelo de sobremesa o de suelo