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El analizador de metales de alto rendimiento de cuarta generación
Detección de metales basada en CMOS, descarga de chispa
Límites de detección ultrabajos
Alta integración, confiabilidad y estabilidad.
Costos operativos reducidos y fácil mantenimiento.
Cámara óptica de vacío y bajo consumo de argón
Tecnología de chorro de argón para optimizar el análisis de muestras pequeñas
Modificación de parámetros estandarizados
Máximo 30+ elementos
Análisis de alto contenido de nitrógeno (N) 0,03-0,9%
Sistema de lectura CMOS de alta resolución
Bajo costo total de propiedad
Óptica de vacío que permite una estabilización rápida
Excelente estabilidad a largo plazo
Diseño inteligente, diseño modular
Aplicaciones ferrosas y no ferrosas
Fácil de usar con control total desde PC
Interfaz de usuario amigable
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preciso, rápido, no destructivo, sencillo, respetuoso con el medio ambiente para los elementos en el rango de na-u pruebas libres de halógenos, Pruebas ROHS/ELV medición del espesor del revestimiento identificación de joyas, piedras preciosas, metales preciosos dominar el material desconocido La excelente sensibilidad conduce a una precisión mejorada de hasta un factor 3 bajo costo de medición, fácil de operar
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