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El analizador de metales de alto rendimiento de cuarta generación
Basado en CMOS, descarga de chispas, detección de metales
Límites ultrabajos de detección
Alta integración, confiabilidad, estabilidad
Bajo costo de operación y fácil mantenimiento
Cámara óptica de vacío y bajo consumo de argón
Tecnología de chorro de argón para optimizar el análisis de muestras pequeñas
Modificación de parámetros estandarizados
Máximo 30+ elementos
Análisis alto en nitrógeno (N) 0.03-0.9%
preciso, rápido, no destructivo, sencillo, respetuoso con el medio ambiente para los elementos en el rango de na-u pruebas libres de halógenos, Pruebas ROHS/ELV medición del espesor del revestimiento identificación de joyas, piedras preciosas, metales preciosos dominar el material desconocido La excelente sensibilidad conduce a una precisión mejorada de hasta un factor 3 bajo costo de medición, fácil de operar
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