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Detección de metales mediante descarga de chispa basada en CMOS
Límites de detección ultrabajos
Alta integración, fiabilidad y estabilidad.
Tecnología de chorro de argón para optimizar el análisis de muestras pequeñas.
Modificación de parámetros estandarizados
Máximo 30+ elementos
Análisis de nitrógeno (N) alto 0,03-0,9%
Rendimiento estable para funcionamiento industrial 24/7.
Ideal para el control de calidad frontal del horno y la verificación de materiales.
Sistema de lectura CMOS de alta resolución
Bajo costo total de propiedad
Óptica de vacío que permite una estabilización rápida
Excelente estabilidad a largo plazo
Diseño inteligente, diseño modular
Aplicaciones ferrosas y no ferrosas
Fácil de usar con control total desde PC
Interfaz de usuario amigable
El analizador de metales de alto rendimiento de cuarta generación
Detección de metales basada en CMOS, descarga de chispa
Límites de detección ultrabajos
Alta integración, confiabilidad y estabilidad.
Costos operativos reducidos y fácil mantenimiento.
Cámara óptica de vacío y bajo consumo de argón
Tecnología de chorro de argón para optimizar el análisis de muestras pequeñas
Modificación de parámetros estandarizados
Máximo 30 elementos
Análisis de alto contenido de nitrógeno (N) 0,03-0,9 %
Espectrómetro de emisión óptica de descarga de chispa basado en CMOS
Análisis de espectro completo y multibase para máxima flexibilidad elemental
Límites de detección ultrabajos
Rango de longitud de onda: 130 nm-800 nm, máximo 30 elementos
Estabilidad y repetibilidad a largo plazo
Excelente espectroscopia de emisión óptica vertical
Vacuómetro para monitorizar el estado de vacío en tiempo real
Análisis de carbono ultrabajo y bajo en nitrógeno
Aplicaciones de análisis de muestras pequeñas
ICP-OES simultáneo para análisis elemental de líquidos Rango de longitud de onda: 195-800nm Para 70 oligoelementos y macroelementos Analice hasta 600 muestras por día Bajos costos operativos Operación intuitiva Límites ultrabajos de detección Ultra-alta velocidad de medición
Analizador de metales con descarga de chispa basado en CCD.
Análisis preciso de todos los metales comunes para el control de calidad de productos entrantes y salientes.
Rango de longitud de onda efectiva: 130 nm-800 nm.
Escalabilidad superior para satisfacer las necesidades de expansión empresarial
Robusto y confiable,
Fácil de operar
Disponible como modelo de sobremesa o de suelo.
Sistema de lectura directa CMOS de alta resolución
Ahorre espacio con la menor dimensión y peso.
Alto rendimiento en relación calidad-precio y excelente rendimiento.
Buena determinación de los diferentes elementos en las distintas matrices
Realizar un análisis cuantitativo rápido y preciso
Argón purgado con un consumo mínimo de argón
Software completo de análisis automático con función de diagnóstico
El analizador de metales de alto rendimiento de cuarta generación
Detección de metales basada en CMOS, descarga de chispa
Límites de detección ultrabajos
Alta integración, confiabilidad y estabilidad.
Costos operativos reducidos y fácil mantenimiento.
Cámara óptica de vacío y bajo consumo de argón
Tecnología de chorro de argón para optimizar el análisis de muestras pequeñas
Modificación de parámetros estandarizados
Máximo 30+ elementos
Análisis de alto contenido de nitrógeno (N) 0,03-0,9%
Espectrómetro de emisión óptica de descarga de chispa basado en CMOS
Análisis de espectro completo y multibase para máxima flexibilidad elemental
Límites de detección ultrabajos
Rango de longitud de onda: 130 nm-800 nm, máximo 30 elementos
Estabilidad y repetibilidad a largo plazo
Excelente espectroscopia de emisión óptica vertical
Vacuómetro para monitorizar el estado de vacío en tiempo real
Análisis de carbono ultrabajo y bajo en nitrógeno
Aplicaciones de análisis de muestras pequeñas
Espectrómetro de emisión óptica de descarga de chispa basado en CMOS
Análisis de espectro completo y multibase para máxima flexibilidad elemental
Límites de detección ultrabajos
Rango de longitud de onda: 130 nm-800 nm, máximo 30 elementos
Estabilidad y repetibilidad a largo plazo
Excelente espectroscopia de emisión óptica vertical
Vacuómetro para monitorizar el estado de vacío en tiempo real
Análisis de carbono ultrabajo y bajo en nitrógeno
Aplicaciones de análisis de muestras pequeñas
Analizador de metales con descarga de chispa basado en CCD.
Análisis preciso de todos los metales comunes para el control de calidad de productos entrantes y salientes.
Rango de longitud de onda efectiva: 130 nm-800 nm.
Escalabilidad superior para satisfacer las necesidades de expansión empresarial
Robusto y confiable,
Fácil de operar
Disponible como modelo de sobremesa o de suelo.
Sistema de lectura directa CMOS de alta resolución
Ahorre espacio con la menor dimensión y peso.
Alto rendimiento en relación calidad-precio y excelente rendimiento.
Buena determinación de los diferentes elementos en las distintas matrices
Realizar un análisis cuantitativo rápido y preciso
Argón purgado con un consumo mínimo de argón
Software completo de análisis automático con función de diagnóstico