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Análisis elemental XRF TY9800

Preciso, rápido, no destructivo, sencillo, respetuoso con el medio ambiente

Para los elementos en el rango de Na-U

Pruebas libres de halógenos, pruebas ROHS/ELV

Medición de espesor de recubrimiento

Identificación de joyas, piedras preciosas, metales preciosos

Domina el material desconocido

La excepcional sensibilidad conduce a una precisión mejorada de hasta un factor 3

Bajo costo de medición, fácil de operar

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Resumen:

El espectrómetro de fluorescencia de rayos X TY-9800 representa un gran avance en la tecnología de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía. Es un instrumento analítico avanzado y preciso que alcanza el nivel de plomo. Tiene ventajas obvias que no necesitan un tratamiento especial en las muestras, análisis rápido, alta precisión de análisis, operación simple y bajo costo de medición. También proporciona avances revolucionarios en el análisis multielemental de concentraciones de elementos mayores, menores y trazas. Los nuevos desarrollos en excitación y detección brindan sensibilidad y límites de detección excepcionales, lo que genera ganancias notables en precisión y exactitud. Puede ayudar a probar ROHS o ELV y puede ayudar a seguir las regulaciones de juguetes para garantizar que los productos sean protección del medio ambiente y verde . Ofrece gran parte de la potencia analítica de los analizadores de sobremesa de laboratorio de primera calidad. Y proporcione un rendimiento excepcional, en amplios niveles de concentración, para todos los elementos relevantes en el rango de Na-U.

Aplicaciones:

El espectrómetro de fluorescencia de rayos X TY-9800 puede realizar análisis cualitativos y cuantitativos de elementos que excluyen el elemento de carbono en todo tipo de materiales. Funciona bien en elementos como Mg, Al, Si, S, P, Mn que son difíciles de analizar en otros instrumentos.

Rieles

Inspección simple de recubrimientos utilizando una solución de análisis multicapa

Paquete de identificación positiva de materiales para clasificación rápida de metales e informes PASA/FALLA

Cuantificación elemental de escorias

Cribado rápido de metales ferrosos y no ferrosos

Soluciones analíticas para el control de calidad y procesos de hierro, sinterizado y acero

Soluciones analíticas para el seguimiento de procesos y aseguramiento de la calidad de aluminio, cobre, plomo, níquel, estaño, titanio y zinc, y sus aleaciones.

Plásticos y polímeros

Análisis RoHS-3 con rendimiento compatible con ASTM F2617

Análisis detallado y directo de muestras heterogéneas para análisis de puntos pequeños

Soluciones CRM únicas disponibles para aditivos, elementos restringidos y tóxicos en polietileno

Otras aplicaciones

Departamento de inspección de calidad: análisis de elementos que incluyen Pb, Cd, Cr, Hg, Br y halógeno en instrucciones ROSH

Medición del espesor del revestimiento: el instrumento puede realizar mediciones precisas no destructivas del grosor de todas las capas de revestimiento en materiales metálicos y no metálicos.

Las muestras se pueden medir como:

Sólidos

Líquidos

Cuentas fusionadas

lodos

Gránulos

filtros

Películas y recubrimientos

Características:

1. El instrumento adopta la tecnología de procesamiento de pulso digital (DPP) con alta tasa de conteo, sin fugas y buena estabilidad.

2. El instrumento adopta un tubo de rayos X para excitar las muestras. Puede excitar todos los elementos a la vez. El rayo pertenece a la radiación de frenado. Be-window tiene un grosor de 50 μm con material objetivo Ag. Tiene baja potencia y larga vida útil, y tiene una mayor eficiencia de excitación en elementos ligeros y pesados.

3. El instrumento adopta el detector de deriva de semiconductores de refrigeración eléctrica (SDD) más avanzado del mundo con alta resolución de hasta 130 ev. No requiere refrigeración con nitrógeno líquido. Es conveniente de usar y puede completar la detección en múltiples elementos a la vez.

4. Fuente de alimentación de alto voltaje: Voltaje: continuamente ajustable dentro de 0V-50kV; Corriente: Continuamente ajustable dentro de 0-2mA. Operaciones de alta precisión y sin fallos.

5. La medición en el entorno de vacío mejora la eficiencia de excitación de los elementos ligeros y el rango de medición.

6. El espectrómetro multicanal de 2048 canales realiza mediciones y visualizaciones en tiempo real, y elabora análisis del espectro de rayos X en las muestras. El sistema puede reconocer automáticamente el espectro para que esté disponible para aprender sobre la composición de la muestra.

7. La búsqueda automática de picos elimina el impacto de la desviación de picos y garantiza la estabilidad a largo plazo del instrumento.

8. El software de aplicación de Windows en chino completo es fácil de operar. El software de análisis profesional puede realizar el reconocimiento de patrones, la clasificación automática y el sistema de software de acceso abierto para que los usuarios puedan crear archivos de biblioteca de acuerdo con sus necesidades.

9. El instrumento absorbe una serie de métodos de tratamiento de espectro avanzados, que incluyen FFT (Transformada rápida de Fourier), Método de deducción de fondo preciso, Búsqueda automática de picos derivados y Algoritmo de optimización de cuasi-Newton.

10. El software de análisis XRF internacionalmente avanzado absorbe múltiples métodos de análisis clásicos, incluido el método de coeficiente empírico, el método de parámetro fundamental (FP) y el método de coeficiente α teórico para garantizar de manera integral la precisión de los datos de prueba.

Ventajas del producto

Preciso, Rápido, No Destructivo, Directo, Ambientalmente Protector.

Preciso: Los resultados son similares a los obtenidos por el método químico húmedo.

Rápido: solo toma varios minutos analizar docenas de elementos en una muestra.

No Destructivo: El dispositivo no destruye las propiedades físicas y químicas de las muestras a analizar.

Sencillo: Los resultados analíticos se muestran en forma de gráficos.

Protección Ambiental: El dispositivo no genera contaminación al medio ambiente.

Parámetro:

Articulo

Índice

Elementos de análisis

Na-U, principalmente Al, Si, P, S, K, Ca, Ti, V, Fe, Ni, Mn, Pb, Zn, Cu, Sn, Sb, etc.

Rango de análisis

1ppm-99.99%

Análisis simultáneo

Análisis de 30 elementos.

Rango de energía

1-50keV.

Tiempo de medición

El análisis de contenido de todos los elementos a analizar se puede completar en 1-2 minutos

Resolución del detector de semiconductores de refrigeración eléctrica importada

130ev

Voltaje del tubo: corriente del tubo 0-50Kv

1~2000μA

Precisión analítica

Desviación estándar≤0.08%.

error analítico

Mejor que el estándar nacional.

dosis de radiación

<25 μsv/h.

Requisito de temperatura

15 ℃-35 ℃

fuente de alimentación de trabajo

220±10% VCA, Frecuencia 50~60Hz

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