Solución completa para análisis de partículas ópticas y limpieza técnica
Sistema de análisis de filtro automático
Facilita tu limpieza técnica
Eliminación y análisis de contaminación
Análisis y revisión rápidos en vivo
Integración completa del sistema para un alto rendimiento
Modernos sistemas de análisis de limpieza con software intuitivo
Solución de análisis de limpieza técnica
Solución completa para análisis de partículas ópticas y limpieza técnica
Nuestra solución de análisis de limpieza técnica puede cumplir con los estándares inferiores y se utiliza principalmente para
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Estándares |
Utilizado principalmente para |
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Norma ISO 11218:1993 |
Aeroespacial - Clasificación de limpieza para fluidos hidráulicos |
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Norma ISO 12345:2013 |
Motores diesel - Evaluación de la limpieza del equipo de inyección de combustible |
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ISO 14952:2003 |
Sistemas espaciales - Limpieza superficial de sistemas de fluidos |
|
Norma ISO 16232-10:2007 |
Vehículos de carretera - Limpieza de componentes de circuitos de fluidos |
|
Norma ISO 4406:1999 |
Fluidos hidráulicos de potencia - Fluidos - Método de codificación del nivel de contaminación por partículas sólidas |
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Norma ISO 4407:1991 |
Potencia de fluidos hidráulicos - Contaminación de fluidos - Determinación de contaminación de partículas por el método de conteo usando un microscopio |
|
NAS 1638:2011 |
Requisitos de limpieza de las piezas utilizadas en los sistemas hidráulicos |
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NF E 48-651:1986 |
TRANSMISIONES HIDRÁULICAS - FLUIDOS - DETERMINACIÓN DE LA CONTAMINACIÓN PARTICULAR POR EL MÉTODO DE COMPENSACIÓN EN MICROSCOPIO |
|
NF E 48-655:1989 |
Fluidos hidráulicos de potencia - Fluidos - Contaminación por partículas - Expresión de resultados |
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NF ISO 21018-1:2008 |
Potencia del fluido hidráulico - Supervisión del nivel de contaminación por partículas del fluido |
|
SAE AS 4059:2011 |
Aerospace Fluid Power - Clasificación de limpieza para fluidos hidráulicos |
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VDA 19.1:2015 |
Circuitos de fluidos en automoción-Inspección de Limpieza Técnica |
Flujo de trabajo de análisis de limpieza: pasos como se indica a continuación
Preparación de piezas/componentes de acuerdo con los métodos requeridos
El método de preparación dependerá del tipo de pieza o componente y del tamaño de la muestra a analizar. Determine la solución requerida para la parte específica y el tamaño de la muestra.
Extracción / Filtración por gabinete de limpieza de componentes CC767
Extraiga partículas contaminantes de piezas y componentes con rociado, enjuague o ultrasonicación. Luego, la solución de limpieza se pasa a través de un filtro, el tipo depende de las partes limpiadas y las partículas retenidas en membranas para su análisis. Los filtros se secan en un horno de secado y luego se evalúan.
Análisis de partículas por el sistema de análisis de limpieza técnica CA45
Las partículas son detectadas, cuantificadas y clasificadas según su tamaño y tipo, es decir, su potencial para causar daño. Se realiza con el Sistema de Análisis de Limpieza Técnica CA45 utilizando un microscopio digital y un sistema de software de limpieza.
Comprobar resultados según ISO 16232 y VDA19
Revise los resultados del análisis e identifique si hay presentes partículas potencialmente catastróficas. Las propiedades de reflexión de todos los contaminantes en todo el filtro se pueden determinar mediante escaneo, y la clasificación y la medición del tamaño de los siguientes cuatro tipos de partículas se pueden completar rápida y automáticamente en unos pocos minutos: partículas reflectantes, fibras reflectantes, partículas no reflectantes y fibras no reflectantes.
Lista de suministros
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No. |
Artículo |
Especificaciones |
CANTIDAD |
Unidad |
Observaciones |
|
1 |
microscopio óptico de alta definición |
Olimpo, Nikon |
1 |
Establecer |
Sistema de análisis de limpieza técnica CA45 |
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2 |
Plataforma de escaneo eléctrica de alta precisión + soporte |
|
1 |
Establecer |
|
|
3 |
Sistema de enfoque automático de alta precisión |
|
1 |
Establecer |
|
|
4 |
Software de análisis de limpieza |
V1.1 |
1 |
Establecer |
|
|
5 |
Sistema de polarización manual |
|
1 |
Establecer |
|
|
6 |
Herramientas de posicionamiento de membrana de filtro |
|
1 |
Establecer |
|
|
7 |
Abrazadera de membrana |
|
1 |
Establecer |
|
|
8 |
Caja de control de la plataforma de escaneo |
|
1 |
Establecer |
|
|
9 |
cámara CCD de alta definición |
|
1 |
Establecer |
|
|
10 |
Computadora |
lenovo |
1 |
Establecer |
|
|
11 |
Número de serie del dongle |
|
1 |
Establecer |
|
|
12 |
Documentos (manual, control de calidad) |
|
1 |
Establecer |
|
|
13 |
Armarios de aseo |
CC767 |
1 |
Establecer |
Gabinete de limpieza de componentes CC767 |
|
14 |
Pistola de limpieza |
|
1 |
PC |
|
|
15 |
vaso medidor |
|
1 |
PC |
|
|
dieciséis |
Filtro de precisión para armarios de limpieza |
0,22 um/0,45 um/1 um, 156 mm |
6 |
PC |
|
|
17 |
Membrana filtrante de alta precisión |
5um/10um/20um, 47mm |
1 |
Caja |
|
|
18 |
Pinzas planas de acero inoxidable |
|
1 |
PC |
|
|
19 |
Conducto de aire armarios limpieza |
|
1 |
PC |
|
|
20 |
Estante rejilla armarios aseo |
|
1 |
PC |
|
|
21 |
Clave del dispositivo |
|
1 |
PC |
|
|
22 |
Cable de energía |
|
1 |
PC |
|
|
23 |
Documentos (manual, control de calidad) |
|
1 |
Establecer |
|
|
24 |
Balanza analítica electrónica |
|
1 |
Establecer |
Opcional, no incluir en cotización. |
|
25 |
horno eléctrico de secado |
|
1 |
Establecer |
|
|
26 |
Limpiador de armarios de limpieza |
D60 25L/ Cubo |
1 |
Cubo |
|
|
27 |
Secador de cristalería de laboratorio |
|
1 |
PC |
|
|
28 |
Caja de conservación de membranas |
|
1 |
PC |
|
|
28 |
Anillo de sellado de abrazadera de membrana |
|
1 |
PC |
|
|
30 |
desecador de vidrio |
|
1 |
PC |
Solución completa para análisis de partículas ópticas y limpieza técnica
Sistema de análisis de filtro automático
Facilita tu limpieza técnica
Eliminación y análisis de contaminación
Análisis y revisión rápidos en vivo
Integración completa del sistema para un alto rendimiento
Modernos sistemas de análisis de limpieza con software intuitivo
Análisis in situ flexible, fiable y seguro
En cualquier momento, en cualquier lugar, inspección in situ
Identificación positiva de materiales (PMI)
Peso ligero para ser de unos 20 kg.
Alta precisión y estabilidad.
Adecuado para tareas de análisis en diferentes condiciones.
Compacto robusto y con óptica de alto rendimiento
Diseño móvil inteligente y multimodal
ICP-OES simultáneo para análisis elemental de líquidos
Rango de longitud de onda: 195-800nm
Para 70 oligoelementos y macroelementos
Analice hasta 600 muestras por día
Bajos costos operativos
Operación intuitiva
Límites ultrabajos de detección
Ultra-alta velocidad de medición
Espectrómetro de emisión óptica de descarga de chispa basado en CMOS
Análisis de espectro completo de bases múltiples para una máxima flexibilidad elemental
Límites ultrabajos de detección
Rango de longitud de onda: 130nm-800nm, máximo 30+ elementos
Estabilidad y repetibilidad a largo plazo
Excelente espectroscopia de emisión óptica vertical
Vacuómetro para monitorear el estado del vacío en tiempo real
Análisis ultrabajo en carbono y bajo en nitrógeno
Aplicaciones de análisis de muestras pequeñas
El papel abrasivo está hecho de una base de papel de látex importado y un abrasivo de carburo de silicio estrictamente graduado procesado mediante un proceso de plantación de arena electrostática. El producto tiene las características de buena resistencia al agua, molienda fuerte y excelente resistencia al desgaste. Papel de lija adhesivo sensible a la presión con cinta transparente avanzada de doble cara, sin residuos, más cómodo de usar.
ICP-OES simultáneos para análisis elemental de líquidos
rango de longitud de onda: 195-800nm
para 70 oligoelementos y macroelementos
analizar hasta 600 muestras por día
bajos costos operativos
operación intuitiva
límites ultrabajos de detección
ultra alta velocidad de medición
Sistema de lectura CMOS de alta resolución
Bajo costo total de propiedad
Óptica de vacío que permite una estabilización rápida
Excelente estabilidad a largo plazo
Diseño inteligente, Diseño modular
Aplicaciones ferrosas y no ferrosas
Fácil de usar con control total de la PC
Interfaz de usuario amigable
El analizador de metales de alto rendimiento de cuarta generación
Basado en CMOS, descarga de chispas, detección de metales
Límites ultrabajos de detección
Alta integración, confiabilidad, estabilidad
Bajo costo de operación y fácil mantenimiento
Cámara óptica de vacío y bajo consumo de argón
Tecnología de chorro de argón para optimizar el análisis de muestras pequeñas
Modificación de parámetros estandarizados
Máximo 30+ elementos
Análisis alto en nitrógeno (N) 0.03-0.9%
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