Bajo costo total de propiedad
Óptica sin vacío con estabilización rápida
Fiabilidad y rendimiento analítico inigualables
Excelente estabilidad a largo plazo
Fácil de usar con control total de la PC
Diseño compacto, tamaño pequeño.
Máximo 20 elementos
Resumen :
El espectrómetro de emisión óptica M4 adopta tecnología de proceso de fabricación y diseño estándar internacional, combina completamente digital con tecnología de Internet y utiliza un detector CMOS de alta resolución, el sistema de purga de argón diseñado con precisión para garantizar instrumentos con mayor rendimiento, menor costo y precio extremadamente competitivo.
El espectrómetro M4 es el instrumento más adecuado para la determinación de varios elementos en diferentes matrices (Fe, Al, Mg). Es una solución ideal para el control de procesamiento de metales y análisis químico, análisis de calidad de materiales metálicos y laboratorios de investigación. Es rentable y no requiere un sistema de vacío.
Si el cliente desea una alta rentabilidad y la prueba es poco frecuente, el M4 OES será una buena opción.
Aplicaciones :
Laboratorios de prueba: laboratorios de prueba comerciales, universidades y colegios
Fabricantes de aleaciones: control de procesamiento de metales y análisis químico
Industrias medianas: Extremadamente resistentes y económicas; bajo costo / análisis
Fundiciones que necesitan un análisis rápido cerca del horno
Instalaciones de fabricación
Identificación de material de almacén
Base: Fe, Al, Mg
Características:
Preciso fiable, rápido, versátil y asequible
Unidad de escritorio de diseño compacto
Ahorro de energía, energía de reserva 50VA,
La cámara de luz llena de argón en lugar del sistema de vacío.
El detector CMOS de alta resolución puede lograr un análisis de espectro completo.
Cobertura de longitud de onda completa, calibración de fábrica personalizada, adición de nuevos elementos sin configuración de hardware adicional.
Rango de longitud de onda 1 65 nm~ 5 80 nm (ampliable) , las líneas espectrales pueden cubrir todos los elementos importantes
Detección UV de alta sensibilidad con el sistema de purga de argón de precisión,
Control de temperatura del espectrómetro que garantiza una alta precisión y estabilidad
Fuente de chispa digitalizada programable, que genera una forma de onda de descarga optimizada para diferentes bases.
Sistema avanzado de diagnóstico y protección de excitación que garantiza la seguridad operativa
Control de purga de argón que protege la lente de entrada de la contaminación y minimiza el mantenimiento
Captura de datos profesional, precisión mejorada al reducir la interferencia de fondo
Calibración global de fábrica con corrección de interferencias
Soporte tecnológico y actualización de software gratis.
Bajo costo total de propiedad
Óptica sin vacío con estabilización rápida
Fiabilidad y rendimiento analítico inigualables
Excelente estabilidad a largo plazo
Fácil de usar con control total de la PC
Diseño compacto, tamaño pequeño.
Máximo 20 elementos
ICP-OES simultáneo para análisis elemental de líquidos
Rango de longitud de onda: 195-800nm
Para 70 oligoelementos y macroelementos
Analice hasta 600 muestras por día
Bajos costos operativos
Operación intuitiva
Límites ultrabajos de detección
Ultra-alta velocidad de medición
Oxígeno: 0,00005 %～0,1 %
Nitrógeno: 0,00005 %～0,5 %
Hidrógeno: 0,00005 %～0,0050 %
Optimizado con funciones fáciles de usar
Máxima fiabilidad y economía
Análisis de elementos preciso y eficiente
Resultados rápidos gracias a su fácil manejo
Potente tecnología de horno y nuevo sistema de puerto de muestras
Células de medición de oxígeno con rango de medición flexible
El analizador de metales de alto rendimiento de cuarta generación
Basado en CMOS, descarga de chispas, detección de metales
Límites ultrabajos de detección
Alta integración, confiabilidad, estabilidad
Bajo costo de operación y fácil mantenimiento
Cámara óptica de vacío y bajo consumo de argón
Tecnología de chorro de argón para optimizar el análisis de muestras pequeñas
Modificación de parámetros estandarizados
Máximo 30+ elementos
Análisis alto en nitrógeno (N) 0.03-0.9%
Equipo confiable de extracción de limpieza de componentes
Facilidad de operación
Entorno de extracción controlado (cabina de flujo laminar)
Capacidades de configuración programables
Menos errores humanos involucrados
Sin riesgo de contaminación cruzada ambiental
Riesgo reducido de contaminación del operador
Se adapta al espacio disponible y al tamaño de los componentes
Equipos analíticos de carbono y azufre de gama alta
Carbono: 0,000001 %～99,999999 %
Azufre: 0,000001 %～99,999999 %
Disponible para bajo contenido de carbono y alto contenido de azufre
Disponible para gama de dos carbonos gama de dos azufres
Fácil de operar
Dispositivo de dióxido de
carbono Conversión de monóxido de carbono
Detección automática de válvula solenoide
Aplicaciones clave: se utiliza principalmente en cemento, minerales, coque, catalizadores, materiales magnéticos, cerámica, materia inorgánica, grafito, materiales refractarios, materiales para baterías, plantas y otros materiales.
El instrumento de medición integral de engranaje cónico inteligente en línea CSZ-20 con malla de doble cara es una nueva generación de instrumento de medición integral de malla de doble cara con engranaje cónico inteligente en línea especialmente desarrollado por Lee Power Gages de acuerdo con las necesidades de prueba de los productos de los clientes y el entorno de uso en el campo. y el hábito de operación. Adopta control digital por microcomputadora y tecnología de procesamiento inteligente de adquisición de datos de error. Finalización automática de la desviación integral de un eje del engranaje cónico Fam", desviación integral axial de un diente fam", el cambio de la distancia de instalación y la medición del juego de transmisión del engranaje cónico, al mismo tiempo puede detectar el área de contacto del par de engranajes y el engrane del par de engranajes. Ruido de la estructura de la máquina, ruido de la transmisión y otros elementos. Puede cumplir y continuar desarrollando nuevos requisitos de medición propuestos por los usuarios.
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