Espectrómetro EDXRF de sobremesa: Análisis elemental rápido y no destructivo (método FP)
Mar 11 , 2026
Este vídeo presenta el analizador XRF de sobremesa con método FP (parámetro fundamental) para análisis cuantitativo sin estándar.
No se necesita una muestra estándar
Pruebas no destructivas
Análisis elemental de escaneo completo
Rango de elementos: F(9) – U(92)
Análisis rápido: ~15 min por muestra
Ideal para nuevos materiales, residuos industriales, análisis de metales y cumplimiento de RoHS.
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